P/N判定
P/N判定は、ウェハがP型かN型かを判定する方法のことです。半導体ウェハは非常に高純度に製造されますが、電気的な特性を持たせるために、あえてホウ素(B)やリン(P)などの第Ⅲ族、第Ⅴ族の元素を混ぜることで、P型(Positive)半導体や、N型(Negative)半導体が製造されます。
当社では接触式でウェハの表裏のP/N型判定を、外観検査と合わせて自動的に行う装置を製造しております。従来は人が行っていた作業を省力化することで、生産性や品質の向上を図ることができます。P/N判定でお困りの方は、お気軽に当社までご相談ください。
用語一覧
分光干渉式
静電容量式
化合物半導体ウェハ
ポーラスチャック
ベルヌーイ
パーティクル
ノッチ
テフロンコート
タクトタイム
ダイシング
スタンドアローン
水平多関節ロボット
オリフラ
エッジクランプ
アライメント
Siウェハ
SiCウェハ
SEMI
MEMS
JEITA
FFU
P/N判定
SORI
BOW
WARP
TTV
HSMS通信
SECS通信
インライン
PMT電圧
最小検出粒径
光散乱検出
ヘイズ
GEM通信
HOST通信
ウェハ
GaAsウェハ
産業用ロボット
ファクトリーオートメーション(FA)
SFQR
SFQD
色収差共焦点式
レーザ変位計
屈折率
シリコンサイクル
SOI
SOIウェハ
多結晶
単結晶
クリーンクラス
イレブンナイン